日本大塚电子 otsuka厂家分析仪器名录清单
Zeta电位/粒度/分子量测量系统ELSZ-2000ZS
Zeta电位测量系统ELSZ-2000Z
粒度/分子量测量系统ELSZ-2000S
多样品纳米粒度测量系统nanoSAQLA（带有自动进样器AS50）
多样品纳米粒度测量系统nanoSAQLA
聚合物相结构分析系统PP-1000
动态光散射光度计DLS-8000系列
动态光散射光度计DLS-6500series
静态光散射光度计SLS-6500HL
光纤动态光散射光度计FDLS-3000
高灵敏度差动折光仪DRM-3000
毛细管电泳系统Agilent 7100
光谱测量设备
微米光学薄膜测厚仪OPTM系列
非接触式光学测厚仪Emios
线扫描膜厚仪[在线型]
线扫描膜厚仪[离线型]
膜厚计FE-300
内置膜厚监测仪
光谱椭偏仪FE-5000 / 5000S
光谱干涉式晶圆测厚仪SF-3
高灵敏度光谱辐射亮度计HS-1000
总发光强度测量系统HM / FM系列
光谱分布测量系统GP系列
光谱辐射照度测量系统
量子效率测量系统QE-2000 / 2100
参考测量仪RETS-100nx
高速LED光学特性监视器LE series
彩色滤光片光谱特性测量装置LCF系列
单元间隙检查装置RETS系列
LCD评估装置（面板/模块检查）LCD系列
膜厚测量系统FE-3700 / 5700
高速相位差测量仪RE-200
高灵敏度近红外量子效率测量系统QE-5000
透明度/吸光度测量多通道光谱仪MCPD系列
反射率测量应用多通道光谱仪MCPD系列
多通道光谱仪MCPD系列，用于发光/荧光测量
多通道光谱仪MCPD系列，用于颜色测量
多通道光谱仪MCPD系列，用于膜厚测量
单粒子荧光诊断系统
量子点评估系统
兼容装载口的膜厚测量系统GS-300
超快速光谱干涉型测厚仪
紫外线光谱总辐射束测量系统
紫外光谱光分布测量系统
紫外光谱辐射照度测量系统
紫外光谱辐射亮度计